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測試針，用于測試線路板的一種常見的探針，表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3-10萬次的琴鋼線制作成的高性能彈簧。根據(jù)電子測試的用途可分為三種：光電路板測試探針、在線測試探針和微電子測試探針。
1、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品還不可能完全替代進口產(chǎn)品；
2、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進口探針產(chǎn)品；但是80%的工廠還是選擇韓國的;
3、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。60%是LEENO LANYI， 30%日本精研 10%臺灣;
根據(jù)探針的特性可將探針分為懸臂探針和垂直探針。懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）；垂直探針：垂直型（Vertical Type）。
各種探針的特性如下：
1.ICT探針�。↖CT series Probes)：一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼：100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目前應(yīng)用較多的一種探針�！ �
2.界面探針(Interface Probes)：非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達和安捷倫。用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面。
3.微型探針（MicroSeries Probes)：兩個測試點中心間距一般為0.11mm至0.38mm. 非常精密。
4.開關(guān)探針（Switch Probes)：開關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流�！ �
5.高頻探針（Coaxial Probes):用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的。
6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes):彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試�！�
7.高電流探針（High Current Probes):探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps�！ �
8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes) 直徑一般在0.11mm-1.27mm之間。
9.電池探針 (Battery Contacts) 一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長。
(責(zé)任編輯：admin)以上，你對探針的種類和特性有一定了解了吧。 |
